DT

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X光检测成像技术

DT

光敏二极管阵列

◆ 多种可选的标准像素尺寸， 1.5、1.6和2.5毫米

◆ 带有或不带闪烁体，及X射线过滤装置

◆ 可探测低能射线的GOS 窗口

◆ 可探测高能射线的低速系统中的CsI闪烁体 (例如行李检查)

◆ 可探测高能射线的高速系统中的CWO或陶瓷闪烁体 (例如公文包检查，非接触式检查)

◆ 与行业中其他类似的二极管阵列兼容

◆可以根据客户的需求提供特制的单排和多排光敏二极管探测器解决方案。

构建系统

仅使用DT的检测卡系列，就可以很方便的模块化搭建各种X光检测系统，使你更专注于检测应用。

DT同时也集成了其检测卡设计了系列的检测子系统，为厂家集成使用X射线成像检验的应用，提供了一种更为简便的解决方案。

包括各种应用领域：

探测卡

基于光敏二极管和ASIC的综合设计，DT生产适合各种X光检验设备使用的检测卡，包括单能和多能系列，可用于无损检验、医疗、食物和安检等多个领域。检测卡为客户实现了低成本、高性能、不断升级的解决方案。

专用集成芯片

DT为X管探测设计生产专用的集成电路芯片，包括前置发达器及开关电路等，为X光检测应用提供专用的采集手段。

在读取电路CMOS芯片中的前置放大器（每个放大器对应一个像素）可以对光敏二极管阵列的输出电流进行积分放大，其输出电压将被同时采样。采样后的电压值以串行的模式输出。

开关电路是一个应用于CT设备里的多通道ASIC芯片，起到连接探测器二极管输出和前置放大器输入的作用，具有多种模式以满足特定的功能需求。主要由3~8个解码器，NMOS开关和ESD保护电路。输入节点与二极管阵列相连，输出节点和外部的前置放大器相连。

用于食品、药品和工业无损检验等应用的直线型子系统

针对工业高能无损检验用途的直线型探测子系统

工业CT用途客户定制直线型探测子系统

用于各种轮胎检验的U型探测子系统

针对行李、包裹检验的L型探测子系统

大型集装箱和车辆检查或工业领域高能量的无损检测子系统

DT设计并生产高性能的、先进的、可靠的而且低成本的光敏二极管及其阵列、专用集成芯片和探测模块，这些产品可用于α射线、β射线、γ射线及X射线的探测。

DT也提供应用于探测紫外线、可见光和近红外线的高性能的光敏二极管。

通过标准的加工工艺，DT可以加工任何几何形状的光敏二极管和离子化的射线探测二极管。

依靠高超的专业技术和雄厚的工业基础，DT能够开发、构造并生产高端的探测模块。

子系统由密封的机械壳体、探测卡、X射线瞄准仪和一些必须的X射线屏蔽物等构成